膜Zeta電位測(cè)試技術(shù)研究進(jìn)展
| 論文類型 | 技術(shù)與工程 | 發(fā)表日期 | 2007-04-01 |
| 來源 | 分析化學(xué)( FENXIHUAXUE)評(píng)述與進(jìn)展 | ||
| 作者 | 汪錳,安全福,高從堦 | ||
| 關(guān)鍵詞 | 荷電膜 Zeta電位 流動(dòng)電位 評(píng)述 | ||
| 摘要 | 分離膜荷電化顯著地影響著膜的分離性能和耐污染能力。因此, 定量化表征膜表面(包括孔表面)電性能具有重要的理論價(jià)值和實(shí)際意義。本文系統(tǒng)地綜述了各種膜Zeta電位測(cè)定原理、特點(diǎn)及其不足,并展望了膜Zeta電位的未來研究方向。 | ||
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